Simulation et contribution à l’amélioration de la structure d’un DHFET à base de matériaux binaires-ternaires innovants (B,Ga,Al,In)N.

dc.contributor.authorBelarbi, Abdelmaliken_US
dc.date.accessioned2019-07-14T11:56:42Zen_US
dc.date.available2019-07-14T11:56:42Zen_US
dc.date.issued2019-04-11en_US
dc.description.abstractLes transistors à effet de champ à double-hétérojonction (DH-FETs) à base des matériaux nitrurés apparaissent comme les meilleurs candidats pour les applications de puissance et hyperfréquence. Ces transistors intéressent les domaines militaire et civil. Notre travail consiste à simuler un transistor DH-FET à base des matériaux binaires-ternaires innovants (B,Ga,Al,In)N , afin d’améliorer ses performances fréquentielles. L’utilisation de ces matériaux nous a permis d’avoir de meilleures performances en termes de courant de sortie, tension de seuil, rapport Ion/Ioff, courant de fuite de la grille, fréquence de transition et fréquence maximale d’oscillation.en_US
dc.identifier.urihttps://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/14353en_US
dc.language.isofren_US
dc.subjectGaN, AlN, InN, AlGaN, BGaN, InGaN, AlN, transistor à effet de champ à double hétérojonction (DHFET)en_US
dc.subjectgaz d’électrons à deux dimensions (2DEG), puissance, hyperfréquence.en_US
dc.titleSimulation et contribution à l’amélioration de la structure d’un DHFET à base de matériaux binaires-ternaires innovants (B,Ga,Al,In)N.en_US
dc.typeThesisen_US

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