Méthodes d’Extraction des Paramètres des Caractéristiques I-V de Diodes Bipolaires de Puissance en 6H-SiC à Structure JTE

dc.contributor.authors. keraïen_US
dc.contributor.authork. ghaffouren_US
dc.contributor.authorn.e. chabane-sarien_US
dc.date.accessioned2012-05-24T13:54:27Zen_US
dc.date.available2012-05-24T13:54:27Zen_US
dc.date.issued2003-09-29en_US
dc.descriptionConférence Internationale sur les Systèmes de Télécommunication , d’Electronique Médicale et d’Automatique, CISTEMA’2003en_US
dc.description.abstractNous avons utilisé l’algorithme des moindres carrées pour extraire les valeurs du courant de saturation Is, du facteur d’idéalité n et de la résistance série Rs des caractéristiques expérimentales I-V de diodes bipolaires. Ces paramètres sont définis à partir de trois méthodes basées sur trois modèles différents. Le premier est celui d’une diode sans résistance série (Is et n), le deuxième est celui d’une barrière de potentiel en série avec Rs. Le troisième prend en considération tous les paramètres évalués à partir d’une fonction auxiliaire qui dépend de la caractéristique expérimentale I-V et d’une tension arbitraire Va. Ces méthodes sont appliquées sur cinq diodes bipolaires en 6HSiC à structure JTE. Les valeurs obtenues par la troisième méthode sont en bon accord avec le modèle réel de la diode bipolaire dans la mesure où le taux d’ajustement entre la caractéristique expérimentale I-V et celle calculée par le modèle théorique est élevé et ceci quelque soit les taux d’ajustement obtenus par les deux autres méthodes.en_US
dc.identifier.urihttps://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/867en_US
dc.language.isofren_US
dc.subjectCaractéristique I-Ven_US
dc.subjectIsen_US
dc.subjectnen_US
dc.subjectRsen_US
dc.subjectLMSen_US
dc.subjectDiodeen_US
dc.subject6H-SiCen_US
dc.titleMéthodes d’Extraction des Paramètres des Caractéristiques I-V de Diodes Bipolaires de Puissance en 6H-SiC à Structure JTEen_US
dc.typeArticleen_US

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