Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document :
http://dspace1.univ-tlemcen.dz/handle/112/16315
Titre: | Etude,simulation et réalisation d'un Testeur de circuits integres. |
Auteur(s): | RAHOU, Younes SALHI, Ibrahim Adel |
Mots-clés: | Circuits Intégrés; TTL ; CMOS ;portes logiques ; Amplificateur Opérationnel temporisateur; Horloge ; compteur décimal |
Date de publication: | nov-2020 |
Résumé: | Construit autour de composants assez simples et classiques, ce projet permet de contribuer à solutionner les problèmes de pannes qui peuvent se produire au cours des manipulations de Travaux pratiques ou de Travaux d’avant-projet. Il permet par ailleurs de faire le tri de composants et de sélectionner le bon et le mauvais Circuit Intégré lorsqu’on est en présence d’un lot de CI de récupération.Ce dispositif électronique nommé Testeur de Circuits Intégrés permet de contrôler l’état de fonctionnement des circuits intégrés traités dans cemémoire ou de leur équivalents, notamment les Circuit Intégrés linéaires comme l’Amplificateur Opérationnel simple de la famille 741 ou du quadruple Ampli Op LM324, ainsi que le Timer bien connu NE555, mais aussi le Test des Circuits Intégrés CMOS Logiques à portes AND(4081), OR(4071), NAND(4011), NOR(4001), les CI à portes inverseuses (4069 ou 4589), ainsi que le Test du CI Compteur décodeur décimal CD4017. |
URI/URL: | http://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/16315 |
Collection(s) : | Master en GEE |
Fichier(s) constituant ce document :
Fichier | Description | Taille | Format | |
---|---|---|---|---|
Ms.ELN.Rahou+Salhi.pdf | 25,88 MB | Adobe PDF | Voir/Ouvrir |
Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.