Etude;simulation et réalisation d'un testeur de circuits intégrés

Abstract

Construit autour de composants assez simples et classiques, ce projet permet de contribuer à solutionner les problèmes de pannes qui peuvent se produire au cours des manipulations de Travaux pratiques ou de Travaux d’avant-projet. Il permet par ailleurs de faire le tri de composants et de sélectionner le bon et le mauvais Circuit Intégré lorsqu’on est en présence d’un lot de CI de récupération.Ce dispositif électronique nommé Testeur de Circuits Intégrés permet de contrôler l’état de fonctionnement des circuits intégrés traités dans cemémoire ou de leur équivalents, notamment les Circuit Intégrés linéaires comme l’Amplificateur Opérationnel simple de la famille 741 ou du quadruple Ampli Op LM324, ainsi que le Timer bien connu NE555, mais aussi le Test des Circuits Intégrés CMOS Logiques à portes AND(4081), OR(4071), NAND(4011), NOR(4001), les CI à portes inverseuses (4069 ou 4589), ainsi que le Test du CI Compteur décodeur décimal CD4017. Mots Clé : Circuits Intégrés; TTL ; CMOS ;portes logiques ; Amplificateur Opérationnel ; temporisateur; Horloge ; compteur décimal