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dc.contributor.authorBELARBI, Abdelmalik-
dc.date.accessioned2014-06-11T07:20:26Z-
dc.date.available2014-06-11T07:20:26Z-
dc.date.issued2014-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/5340-
dc.description.abstractA l'heure actuelle, les transistors à effet de champ à double-hétérojonction (DH-FET) à base de nitrure de gallium-indium (InGaN) apparaissent comme les meilleurs candidats pour les applications hyperfréquences, de puissance. Les avantages intrinsèques de ces transistors résident dans une tension de claquage et une vitesse de saturation élevée, une grande linéarité. Notre travail consiste à simuler un transistor DH-FET à base d’InGaN, en tenant compte de toutes les grandeurs qui puissent influencer ses performances. Ainsi, nous pourrions optimiser notre dispositif.en_US
dc.language.isofren_US
dc.subjectTransistor à effet de champ à double-hétérojonction (DH-FET), nitrure de gallium (GaN),en_US
dc.subjectnitrure d’aluminium de gallium (AlGaN), nitrure de gallium-indium (InGaN), SILVACO.en_US
dc.titleTransistor DHFET à base d’InGaN : Simulation et optimisation de ses performances DC et RF par le logiciel Silvacoen_US
dc.typeThesisen_US
Collection(s) :Magister en Electronique

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