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dc.contributor.authorKerai, Salim-
dc.date.accessioned2014-05-06T10:42:58Z-
dc.date.available2014-05-06T10:42:58Z-
dc.date.issued1999-10-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/4926-
dc.description.abstractDans cette perspective notre travaille vise deux objectives: le premier est d'étudier les techniques capacitives (cv et dlts)tot en définissant leur conditionsen_US
dc.language.isofren_US
dc.subjectCaractéristiques I-V des diodes a jonction PN et schottkyen_US
dc.titleCaraterisation-des-semi-conducteurs-par-les-techniques-capacitivesen_US
dc.typeThesisen_US
Collection(s) :Magister en Electronique

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