Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dspace1.univ-tlemcen.dz/handle/112/1507
Affichage complet
Élément Dublin CoreValeurLangue
dc.contributor.authorBOUCHAOUR, M.-
dc.contributor.authorORSAL, G.-
dc.contributor.authorOULD-ABBAS, A.-
dc.contributor.authorMALOUFI, N.-
dc.contributor.authorGAUTIER, S.-
dc.contributor.authorCHABANE-SARI, N.E.-
dc.contributor.authorOUGAZZADEN, A.-
dc.date.accessioned2013-03-03T09:52:46Z-
dc.date.available2013-03-03T09:52:46Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/1507-
dc.description.abstractIII-nitride wide band gap semiconductors ( GaN, AIN, and InN) have recently attracted considerable interesten_US
dc.subjectBGaNen_US
dc.subjectSEMen_US
dc.subjectGaN/ AI2O3-
dc.subjectAIN/AI2O3-
dc.subjectAFM-
dc.subjectXRD-
dc.subjectMOVPE-
dc.titleA coparative study between BGaN layers grown on GaN/AI2O3 and AIN/AI2O3 by MOVPEen_US
Collection(s) :Communications internationales

Fichier(s) constituant ce document :
Fichier Description TailleFormat 
BOUCHAOUR.pdf57,69 kBAdobe PDFVoir/Ouvrir


Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.