Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dspace1.univ-tlemcen.dz/handle/112/13472
Affichage complet
Élément Dublin CoreValeurLangue
dc.contributor.authorBOUCHEFRA ep.BOUABDALLAH, YASMINA-
dc.date.accessioned2018-11-14T10:18:21Z-
dc.date.available2018-11-14T10:18:21Z-
dc.date.issued2018-06-23-
dc.identifier.citationsalles des thèsesen_US
dc.identifier.otherDOC-531.6-
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-tlemcen.dz/handle/112/13472-
dc.description.abstractDans ce travail l’objectif principal est l’étude du transport des porteurs de charge dans les matériaux semiconducteurs spécifiquement le nitrure de bore (BN), le nitrure de gallium (GaN), le nitrure d’aluminium (AlN) et leurs alliages ternaires BGaN et BAlN par la méthode de Monté Carlo qui permet de reproduire les phénomènes microscopiques dans les matériaux semi-conducteurs. Le phénomène de transport dans ces semiconducteurs résulte du comportement des électrons de la bande de conduction et la bande interdite. Une étude analytique du problème nécessite la connaissance de la fonction de distribution de l’énergie des électrons, une fonction obtenue en résolvant l’équation de Boltzmann. A cause de sa complexité, cette équation aux dérivées partielles pas de solution analytique sauf dans un nombre de cas limité. C’est pourquoi il a été fait appel à d’autres procédés et en particulier aux méthodes de Monte Carlo pour traiter ce problème dans toute sa généralité. Pour cela nous avons développé un programme écrit en langage Fortran basé sur le principe de cette méthode. Ce logiciel permet de calculer les probabilités à partir des expressions usuelles, en considérant dans notre cas, un modèle à trois vallées (Γ, L, X) , isotropes mais non paraboliques, et pour déterminer l’évolution des différentes interactions ainsi que la vitesse de dérive et l’énergie des porteurs dans les deux matériaux ternaire BGaN et BAlN qui n’influent pas de façon essentielle sur le comportement de l’électron. Elles sont néanmoins introduites pour obtenir une description aussi quantitative que possible de la dynamique électronique.en_US
dc.language.isofren_US
dc.publisher14-11-2018en_US
dc.subjectBxGa(1-x)N et BxAl(1-x)N, simulation de Monte Carlo, phénomène de transport, température, champ électrique, énergie électronique, vitesse de dériveen_US
dc.subjectBxGa(1-x)N et BxAl(1-x)N, Monte Carlo simulation, transport phenomenon, temperature, electric field, electron energy, drift velocity.en_US
dc.titleEtude morphologique et caractérisation des alliages à base de nitrure.en_US
dc.typeThesisen_US
Collection(s) :Doctorat classique en Physique

Fichier(s) constituant ce document :
Fichier Description TailleFormat 
Etude-morphologique-et-caracterisation..pdfCD11,52 MBAdobe PDFVoir/Ouvrir


Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.